三種光譜分析技術（二）

4. 試樣消耗少（毫克級），適用于微量樣品和痕量無機物組分分析，廣泛用于金屬、礦石、合金、和各種材料的分析檢驗。

局限性：非金屬元素不能檢測或靈敏度低。

AFS：

1. 靈敏度高，檢出限較低。采用高強度光源可進一步降低檢出限，有20種元素優于AAS。

2. 譜線簡單，干擾較少，可以做成非色散AFS。

3. 校正曲線范圍寬（3~5個數量級）。

4. 易制成多道儀器（產生的熒光各個方向發射）——多元素同時測定。

局限性：熒光淬滅效應、復雜基體效應等可使測定靈敏度降低；散色光干擾；可測量的元素不多，應用不廣泛（主要因為AES和AAS的廣泛應用，與它們相比，AFS沒有明顯的優勢）。

AAS AES AFS 三者之間的異同點

相似之處：

從原理看，相應能級間躍遷所涉及的頻率相同。

三者都涉及原子化過程，其蒸發、原子化過程相似。

不同之處：

AAS是基于“基態原子”選擇性吸收光輻射能（hv），并使該光輻射強度降低而產生的光譜。

AES是基態原子受到熱、電或光能的作用，原子從基態躍遷至激發態，然后再返回到基態時所產生的光譜（共振發射線和非共振發射線）

AFS是一種輻射的去活化過程，當特定的基態原子(一般為蒸氣狀態)吸收合適的特定頻率的輻射，其中部分受激發態原子在去激發過程中以光輻射的形式發射出特征波長的熒光。