如果使用示波器或者頻率計，就需要無源電壓探頭配合測試，那么首先考慮的是儀器對負載電容的影響。晶體振蕩電路的并聯諧振頻率公式：
其中：C1、C2是負載電容，Cs是印制板的寄生電容
Cp是晶體的等效并聯電容
從上面的電路結構上看，C3、C4串聯后的電容會并聯到C1上，結果使負載電容量增大，最終導致振蕩頻率減小。而如果C3、C4的容值越小，對電路的影響也就越小。但限于目前的測試系統，C3和C4串聯后的電容值是幾個pF的級別，而C1通常是20~30pF，所以儀器對負載電容量的影響在10%以上，最終會導致測量結果產生幾個ppm（單位，百萬分之一）的頻率偏差，通常電路設計對晶體頻偏的要求是30ppm左右，所以這個影響還是不能忽視的。
但如果使用頻譜分析儀，配合近場探頭測試，因為僅在空間上有電磁場的耦合，所以儀器的影響可以忽略。從這個角度上看，頻譜分析儀更適合測量晶體頻率。