光無源器件測試是光無源器件生產工藝的重要組成部分，無論是測試設備的選型還是測試平臺的搭建其實都反映了器件廠商的測試理念，或者說是器件廠商對精密儀器以及精密測試的認識。不同測試設備、不同測試系統搭建方法都會對測試的精度、可靠性和可操作性產生影響。本文簡要介紹光無源器件的測試，并討論不同測試系統對精確性、可靠性和重復性的影響。
測試光首先通過偏振控制器，然后經過回波損耗儀，回波損耗儀的輸出端相當于測試的光輸出口。這里需要強調一點，由于偏振控制器有1～2dB插入損耗，回波損耗儀約有5dB插入損耗，所以此時輸出光與直接光源輸出光相比要小6～7dB。可以用兩根單端 跳線分別接在回損儀和功率計上，采用熔接方式做測試參考，同樣可采用熔接方法將被測器件接入光路以測試器件的插損、偏振相關損耗(PDL)和回波損耗(ORL)。
該方法是很多器件生產廠商常用的，優點是非常方便，如果功率計端采用裸光纖適配器，則只需5次切纖、2次熔纖(回損采用比較法測試*)便可完成插損、回損及偏振相關損耗的測試。但是這種測試方法卻有嚴重的缺點：由于偏振控制器采用隨機掃描Poincare球面方法測試偏振相關損耗，無需做測試參考，所以系統測得的PDL實際上是偏振控制器輸出端到光功率計輸入端之間鏈路上的綜合PDL值。由于回損儀中的耦合器等無源器件以及回損儀APC的光口自身都有不小的PDL，僅APC光口PDL值就有約0.007dB，且PDL相加并不成立，所以PDL測試值系統誤差較大，測試的重復性和可靠性都不理想，所以這種方法不是值得推薦的方法。