各有關單位:
為進一步加強半導體分析檢測技術高技能人才隊伍建設,使科技人員適應科學技術的發展,掌握該技術領域的新技能,新方法,開拓視野,提高科學實驗技能和實驗儀器的使用效能, “半導體材料與器件分析檢測技術”培訓班將于近期在上海舉辦。本次培訓由中國科學院人事局資助、中國科學院上海硅酸鹽研究所主辦、上海無機非金屬材料分析測試專業平臺和上海材料與制造大型儀器區域中心協辦。現將培訓班相關事宜通知如下:
一、培訓時間和地點
培訓時間:2024年7月16-19日(日程安排見附件1)
培訓地點:中國科學院上海硅酸鹽研究所(上海市嘉定區和碩路585號)
二、培訓對象
相關領域從事半導體、電子/電氣相關研究的科研人員和分析工作者。
三、培訓內容
培訓班將邀請本領域專家,采取專題講座、專項技術培訓、現場參觀和實踐技能交流等方式開展。培訓內容包括:光電材料與器件、第三代半導體材料與器件、傳感器與MEMS、半導體產業配套原材料等熱點材料、器件和材料分析、可靠性測試、失效分析、缺陷檢測和量測等熱點分析檢測技術等。
四、報名方式
請于 2024年6月30日17:00 之前填寫報名回執(附件2),通過郵箱發送至培訓聯系人(郵件請以“半導體材料與器件分析檢測技術培訓班報名-單位名稱-姓名”為主題命名)。本次培訓班因名額有限,主辦方將根據學員報名情況進行遴選,并通過郵件形式向學員發送培訓確認通知。
五、其他事項
(一)本次培訓班不收取培訓費,主辦方為學員提供工作餐,學員往返交通費及住宿費自理。(中國科學院屬單位非上海地區學員住宿由主辦方統一安排)。
(二)培訓班名額有限,經遴選參加培訓的學員原則上不得請假。
六、培訓日程安排
| 日期 | 時間 | 內容 |
| 7月16日(星期二) | 13:30-18:00 | 報到 |
| 7月17日(星期三) | 8:30-9:00 | 報到 |
| 9:00-9:30 | 開班儀式 | |
| 9:30-10:40 | 集成電路產業現狀,需求和方向 | |
| 10:50-12:00 | 等離子體質譜技術及其在高純半導體材料分析應用 | |
| 13:30-14:40 | 有機半導體材料的質譜分析技術 | |
| 14:40-15:30 | 等離子體質譜技術在特氣分析應用 | |
| 15:50-17:00 | 半導體化合物質譜分析 | |
| 7月18日(星期四) | 9:00-10:20 | 掃描電子顯微鏡技術及其在半導體結構解析的應用 |
| 10:40-12:00 | 透射電子顯微鏡技術及其在半導體結構解析中應用 | |
| 13:30-14:40 | 離子色譜介紹及在高純水分析 | |
| 14:40-15:30 | 離子色譜在高純半導體材料分析中的應用 | |
| 15:40-17:00 | 拉曼光譜技術及其在半導體晶圓質量檢測中的應用 | |
| 7月19日(星期五) | 9:00-10:10 | 集成電路材料國產化面臨的性能檢測需求 |
| 10:10-10:50 | 等離子體質譜技術在高純化學品分析應用 | |
| 10:50-12:00 | 高端集成電路5A分析評價技術 | |
| 14:00-15:20 | 學員交流 | |
| 15:40-17:00 | 現場交流 |
注:如有特殊情況,培訓日程以實際安排為準.
在線報名:https://c.antpedia.com/63431/introduction.html

聯系人:陳亞楠、汪正
聯系電話:021-69906550
郵箱:chenyanan@mail.sic.ac.cn
中國科學院上海硅酸鹽研究所
2024年6月7日
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