冷場發射掃描電鏡應用技術研討會在京召開

發布時間：2016-09-23 16:59 原文鏈接：冷場發射掃描電鏡應用技術研討會在京召開

　　分析測試百科網訊 2016年9月22日，“冷場發射掃描電鏡最新應用技術研討會”在北京文津酒店召開。此次會議由天美（控股）有限公司、日立高新技術公司主辦，布魯克科技有限公司協辦，國家納米科學中心支持。本次會議有50余名國內外專家學者齊聚一堂，相互交流。

冷場發射掃描電鏡最新應用技術研討會現場

日立高新北京分公司總經理加藤博司

　　作為本次大會的主辦單位，日立高新北京分公司總經理加藤博司首先上臺并致辭，歡迎來自全國各地的專家學者參加本次技術研討會。

天美公司副總裁趙薇

　　天美公司副總裁趙薇隨后致辭并回顧了天美公司的發展歷程，簡述現階段的發展狀況，并展望了未來的使命。天美將致力于制造出中國最好的科學儀器，同時把最先進的科學儀器和技術引入中國，立足中國成為世界一流的專業科學儀器供應商。

國家納米科學技術中心發展部常務副主任范偉民教授

　　國家納米科學技術中心發展部常務副主任范偉民教授簡短致辭。

日立高新電鏡主管工程師羅琴

日立高新SU8220主機

　　日立高新電鏡主管工程師羅琴發布了題為“日立高端冷場掃描電鏡SU8200介紹及應用”的報告，詳細闡述了冷場掃描電鏡SU8200的特性及實際應用。SU8200特有的能量過濾器可檢測極其淺層的表面信號，大大增強表面分辨率，其采用的日立高新技術公司全新開發的冷場電子槍，可在實現超高分辨率下觀察的同時，以穩定的束流滿足長時間下的分析需求。

天美公司電鏡市場部經理高敞

　　天美公司電鏡市場部經理高敞在會上介紹了日立離子研磨器IM4000。離子研磨器IM4000使用氬離子對樣品進行截面切割和研磨，便于進行高分辨率成像，且具有無應力、無污染、高效率的特點。

日立高新電鏡應用工程師席小寧

　　日立高新電鏡應用工程師席小寧對日立原子力AFM5500M進行了介紹。該產品具有參數自動調整功能、探針自動更換功能，無需人工調整，提高了自動化程度；高精度水平掃描器提高了測定精度；此外該產品還與日立高新的掃描電鏡通過共享坐標的方式，實現了觀察同一樣品上相同位置功能，方便用戶使用不同儀器操作。

布魯克公司技術應用專家王慧敏

　　布魯克公司技術應用專家王慧敏為大家介紹了布魯克平插能譜儀對低電壓低束流能譜分析的解決方案。FlatQUAD平插式能譜儀不同于傳統的斜插式能譜儀，該能譜儀將探頭水平放置，并通過采用多探測器系統增加能譜儀的采集效率；在保留高能量分辨率的同時使低電壓下定性定量更加準確，在分析敏感樣品及超薄樣品時具有更好的表現。