近日,泛半導體缺陷檢測創新型企業創銳光譜宣布完成近億元Pre-A輪融資,由光速光合領投。融資資金將主要用于技術研發和產能擴容。
創銳光譜成立于2016年,是全球領先的瞬態光譜技術產業化企業,立足瞬態光譜技術,建立了從基礎科學研究到泛半導體檢測領域的全系列產品。歷經多年的技術積累與深度耕耘,創銳光譜在光譜學系統、激光器、OPO、探測器、自動化等關鍵技術和核心組件及軟件與運動控制算法等方面均實現自研。
光速光合執行董事郭斌表示,創銳光譜集結了中科院、浙江大學、埃默里大學等多家世界頂級學府及科研院所的專家團隊,深耕工業界極為稀缺的瞬態光譜檢測技術。公司以科研市場為依托,開創性地開發出具有生產指導價值的新型高端檢測設備,同時突破現有光學檢測手段的能力邊界,有效延伸到碳化硅功率器件、鈣鈦礦光伏組件、MicroLED顯示面板等高端制造領域,顯著促進了幾大新興領域的商業化進程。尤其在碳化硅領域,已成功向國內外龍頭企業交付了全球范圍內首臺套該類型的高端檢測設備,樹立了行業標桿。此外,經過多年技術積淀,公司成功實現在激光器、探測器等關鍵零部件完全自主化生產,打破了國外巨頭的供應鏈壟斷,構建了極深的行業護城河。
創銳的科研產品線包括超快瞬態吸收光譜系統、超快瞬態吸收顯微成像、納秒瞬態吸收光譜系統、閃光光解系統等,其產品成功打破歐美等巨頭壟斷,目前已進入國內外近百所高校和研究機構,超快光譜系統實現國內市占率第一;在化合物半導體檢測產品領域,創銳光譜構建了從襯底到外延的一站式檢測方案;在泛半導體其他領域,已實現鈣鈦礦光伏面板、第二代半導體晶圓和芯片和MicroLED等多個不同場景檢測技術和設備的落地,不斷拓寬市場和技術的邊界。
創銳光譜CEO陳俞忠博士表示,近一年來創銳光譜在SiC晶圓缺陷檢測方面取得了巨大的技術突破,成功開發了襯底/外延位錯缺陷無損檢測、點缺陷檢測、高速載流子壽命檢測等多種專用設備,在全球范圍內首次解決了SiC襯底位錯缺陷無損檢測的世界性難題,該突破性技術也不斷得到行業認可,相關DiSpec系列檢測設備已實現全球首套落地,并同步發運國際和國內頭部客戶。
本輪融資后,創銳光譜將持續加大研發投入力度,加速推進SiC晶圓缺陷檢測、鈣鈦礦光伏面板檢測等多種工業檢測產品的市場導入, 實現批量出貨目標。
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