在接觸模式下，尖端被“拖動”穿過樣品表面，表面輪廓或者直接使用懸臂的偏轉來測量，或者更常見的是，使用將懸臂保持在恒定位置所需的反饋信號來測量。因為靜態信號的測量容易產生噪聲和漂移，所以使用低剛度懸臂（即具有低彈簧常數k的懸臂）來獲得足夠大的偏轉信號，同時保持低相互作用力。靠近樣品表面，吸引力可能相當強，導致尖端“卡入”表面。因此，接觸模式原子力顯微鏡幾乎總是在合力排斥的深度進行，即與固體表面牢固“接觸”。
