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  • 發布時間:2022-01-14 21:06 原文鏈接: 原子力顯微鏡的敲擊成像模式

      敲擊式AFM與非接觸式AFM比較相似,但它比非接觸式AFM有更近的樣品與針尖距離.和非接觸式AFM一樣,在敲擊模式中,一種恒定的驅動力使探針懸臂以一定的頻率振動(一般為幾百千赫).振動的振幅可以通過檢測系統檢測.當針尖剛接觸到樣品時,懸臂振幅會減少到某一數值.在掃描樣品的過程中,反饋回路維持懸臂振幅在這一數值恒定.當針尖掃描到樣品突出區域時.懸臂共振受到阻礙變大,振幅隨之減小.相反,當針尖通過樣品凹陷區域時,懸臀振動受到的阻力減小,振幅隨之增加。懸臂振幅的變化經檢測器檢測并輸入控制器后,反饋回路調節針尖和樣品的距離,使懸臂振幅保持恒定.反饋調節是靠改變Z方向上壓電陶瓷管電壓完成的。當針尖掃描樣品時,通過記錄壓電陶瓷管的移動就得到樣品表面形貌圖。敲擊式AFM有效防止了樣品對針尖的粘滯現象和針尖對樣品的損壞。

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