原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面結構信息。
應用簡述
H74在冷凍環境下的應用比較成熟，一款相當優秀的導熱膠，已經成功應用在原子力顯微鏡上樣品盤的結構粘接。對陶瓷和金箔具有相當良好的粘接力。并且具有可以再低溫下固化的特點，明顯減小了應力的問題。
可靠性：
H74可以再700℃左右的高溫下，持續工作5分鐘，不會有明顯問題。
另外，如還需通過在一些冷凍條件的應用，我們推薦室溫固化的，更軟的一些產品如T7109-19or T7110。