原子力顯微鏡（AFM）之測試技巧

      樣品的預處理：在顯微鏡下看樣品表面是否干凈，平整，如果有污染或不平整，務必重新制樣。雖然針尖能測試的有效高度為6微米，水平范圍100微米。但事實上，水平和高度方面任接近何一個極限，所測得的圖象效果將很差，且針尖很容易破壞和磨損。

     下針：在選好模式下針前，務必找到樣品表面，調好焦距。掃描范圍先設置為0，當針尖接觸到樣品表面后，再擴大掃描范圍，保護下針時破壞針尖。

     掃圖：為了得到好的圖象，須調好trace和retrace，一般來說調電壓效果會好一些。探針在多次使用后或樣品表面比較粗糙，掃描范圍太小時，trace和retrace重合會比較困難，可以增大掃描范圍或將樣品烘干后再測。測試時應保持安靜，空調等低頻噪音也會影響測試；如果環境太吵，可以降低圖象分辨率，減小外界的影響，或降低掃描頻率。

     Integral gain和 Proportional gain：反饋系統的兩個增益值主要用來設定探針的反饋能力。適當提高I gain和P gain的值以提高系統的響應性，但是這兩個參數不宜過高，否則會使掃描器振蕩，致使圖像出現失真。