原子吸收光譜法中扣除背景方法通常有三大類： 連續光源校正背景， 空心陰極燈自吸效應校 正背景，塞曼效應校正背景。
(1)連續光源校正背景。
當待測元素波長在紫外波段(180-400nm)，采用氘燈或氘空心陰 極燈。波長在可見光及近紅外波段時采用鎢或碘鎢燈，是現代 AAS 儀器應用較廣泛的一種 校正背景方法。其原理是用待測元素 HCL 的輻射作樣品光束，測量總的吸收信號，用連續 光光源的輻射作參比光束并視為純背景吸收， 光輻射交替通過原子化器， 兩次所測吸收值相 減因而使背景得到校正，這種方法有時產生背景校正不足或過度。兩種光源光強度要匹配， 光斑要重合一致，但近年使用氘空心陰極燈可以克服這類不足之處。
(2)自吸(收)效應校正背景，又稱 S-H 法校正背景。
其原理是以低電流脈沖供電(峰值電 流 60mA)于 HCL 使其發射銳線光譜， 并測得原子吸收和背景吸收總吸收值， 以短時高電 流 脈沖供電(峰值電流約 600mA )于 HCL 使其發射譜線產生自吸(收)效應，而原子蒸氣不為吸 收，其測得吸收值視為背景吸收值，將兩值相減得到背景校正后吸收值。這種方法簡單 和 成本低，能校正某些結構背景與原子譜線重疊干擾，可進行全波段 190-900nm 背景校正， 校正精密度高，但不是所有 HCL 燈產生自吸，有些元素如 AL,CA,V 等靈敏度下降。強 脈 沖影響 HCL 壽命。該法只作為其他校正法的補充。
(3)塞曼 Zeeman 效應校正背景是利用光源在磁場作用下產生譜線分裂的現象校正背景。
這種背景校正可有多種方法：可將磁場施加于 HCL，可將磁場施加于原子化器，可利 用橫向效應，也可利用其縱向效應，可用恒定磁場，也可用交變磁場，交變磁場可分固定磁 場和可變磁場強度。一般用 2 磁場 Zeeman 背景校正， 近年也有 3 磁場 Zeeman 背景校正。 Zee-man 校正背景在 GFAAS 用得比較多，FAAS 用得比較少。不足之處為：比常規食品的 線性動態范圍小，靈敏度也有所下降，個別元素譜線分裂不好。