原子吸收法中背景吸收有哪些消除方法

　　原子吸收光譜法中扣除背景方法通常有三大類： 連續光源校正背景， 空心陰極燈自吸效應校 正背景，塞曼效應校正背景。
　　(1)連續光源校正背景。當待測元素波長在紫外波段(180-400nm)，采用氘燈或氘空心陰 極燈。波長在可見光及近紅外波段時采用鎢或碘鎢燈，是現代 AAS 儀器應用較廣泛的一種 校正背景方法。其原理是用待測元素 HCL 的輻射作樣品光束，測量總的吸收信號，用連續 光光源的輻射作參比光束并視為純背景吸收， 光輻射交替通過原子化器， 兩次所測吸收值相 減因而使背景得到校正，這種方法有時產生背景校正不足或過度。兩種光源光強度要匹配， 光斑要重合一致，但近年使用氘空心陰極燈可以克服這類不足之處。
　　(2)自吸(收)效應校正背景，又稱 S-H 法校正背景。其原理是以低電流脈沖供電(峰值電 流 60mA)于 HCL 使其發射銳線光譜， 并測得原子吸收和背景吸收總吸收值， 以短時高電 流 脈沖供電(峰值電流約 600mA )于 HCL 使其發射譜線產生自吸(收)效應，而原子蒸氣不為吸 收，其測得吸收值視為背景吸收值，將兩值相減得到背景校正后吸收值。這種方法簡單 和 成本低，能校正某些結構背景與原子譜線重疊干擾，可進行全波段 190-900nm 背景校正， 校正精密度高，但不是所有 HCL 燈產生自吸，有些元素如 AL、CA、V 等靈敏度下降。強 脈 沖影響 HCL 壽命。該法只作為其他校正法的補充。
　　(3)塞曼 Zeeman 效應校正背景是利用光源在磁場作用下產生譜線分裂的現象校正背 景。這種背景校正可有多種方法：可將磁場施加于 HCL，可將磁場施加于原子化器，可利 用橫向效應，也可利用其縱向效應，可用恒定磁場，也可用交變磁場，交變磁場可分固定磁 場和可變磁場強度。一般用 2 磁場 Zeeman 背景校正， 近年也有 3 磁場 Zeeman 背景校正。 Zee-man 校正背景在 GFAAS 用得比較多，FAAS 用得比較少。不足之處為：比常規食品的 線性動態范圍小，靈敏度也有所下降，個別元素譜線分裂不好。