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  • 發布時間:2021-06-25 22:17 原文鏈接: 雙光束干涉儀波長的測量和檢驗光學元件

      波長的測量

      任何一個以波長為單位測量標準米尺的方法也就是以標準米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標準,利用干涉儀可精確測定光波波長。法布里-珀羅干涉儀(標準具)曾被用來確定波長的初級標準(鎘紅譜線波長)和幾個次級波長標準,從而通過比較法確定其他光譜線的波長。

      檢驗光學元件

      泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學元件的質量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡,平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡,可根據干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變,從而評估透鏡的波像差。

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