反射率測量

反射率測量

1. 反射通常分為鏡面反射和漫反射。當入射光在物體表面發生鏡面反射，通過反射探頭（FCR）測量，易造成光譜儀飽和，同時受測量距離及方向變化的影響較大。要保證測量精度，探頭到物體表面的距離必須跟探頭到鏡面參考（RS-2）的距離保持一致。
   2. 當入射光在物體表面發生漫反射，采用反射探頭或積分球，測量結果差不多。    
   3. 測量重復性，采用積分球可以保證在1%以內。

4. 為了避免光譜儀飽和，可以采用反射式積分球（AvaSphere-REFL），它的內表面是完美的漫射體，具有非常均勻的空間反射特性，鏡面反射光在內表面經過多次反射后，積分球內壁上任意位置的光強相同。測量步驟，先將標準片置于積分球的采樣口測量存為參考，再將待測樣品置于采樣口測量，軟件會自動計算出反射率R。
      5. 標準片包括WS-2漫反射和RS-2鏡面反射。