是隨著同步輻射光的應用而發展起來的一種新的微區痕量無損分析技術。它是利用同步加速器電子儲存環中產生的具有奇異特性（頻帶寬且連續可調；通量大亮度高；準直性好；高度偏振；具有特定時間結構）的電磁波（通稱為同步輻射或同步輻射光），再經準直、聚焦或單色化而形成高亮度的X射線微探針進行樣品分析。
