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  • 發布時間:2021-09-05 12:30 原文鏈接: 在質譜圖中判斷分子離子峰的依據主要有哪些

    判斷質譜圖上的分子離子峰的方法:

    1、形成分子離子需要的能量最低,一般約10電子伏特。降低裂解電壓,有利于形成分子離子,質譜圖上出現分子離子峰或分子離子峰豐度增加。

    2、分子離子峰必須符合N律氮律:由C,H,O組成的有機化合物,分子質量M一定是偶數。由C,H,O,N組成的有機化合物,N奇數,M奇數。由C,H,O,N組成的有機化合物,N偶數,M偶數。

    3、分子離子峰與相鄰峰的質量差必須合理。如相差15,則失去-CH3,但不會相差11、10等。





    質譜中主要離子峰

    1、碎片離子峰

    當電子轟擊的能量超過分子離子電離所需要的能量時(約為50~70eV),可能使分子離子的化學鍵進一步斷裂,產生質量數較低的碎片,稱為碎片離子。在質譜圖上出現相應的峰,稱為碎片離子峰。碎片離子峰在質譜圖上位于分子離子峰的左側。


    2、同位素離子峰

    在質譜圖中除了最輕同位素組成的分子離子所形成的M+峰外,還會出現一個或多個重同位素組成的分子離子峰,如(M+1)+、(M+2)+、(M+3)+等,這種離子峰叫做同位素離子峰。

    3、重排離子峰

    分子離子裂解成碎片時,有些碎片離子不是僅僅通過鍵的簡單斷裂有時還會通過分子內某些原子或基團的重新排列或轉移而形成離子,這種碎片離子稱為重排離子。質譜圖上相應的峰稱為重排峰。


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