| 儀器名稱： | 場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F |
| 儀器編號： | 98075000 |
| 產地： | 日本 |
| 生產廠家： | 日本電子 |
| 型號： | JSM-6301F |
| 出廠日期： | 199707 |
| 購置日期： | 199803 |
| 所屬單位： | 材料學院>材料中心 >電鏡中心 |
| 放置地點： | 清華大學主樓東配樓十一區118室 |
| 固定電話： | |
| 固定手機： | |
| 固定email： | |
| 聯系人： | 王永力（010-62773015,13911378129,447293071@qq.com） 閆允杰（010-62773996,13651374317,yanyunjie514@263.net.cn） |
| 分類標簽： | 掃描電鏡 EBSD FSEM 顯微鏡 場發射掃描 分析電鏡 高分辨顯微鏡 電子顯微鏡 EDS SEM 場發射掃描電子顯微鏡 場發射掃描電鏡 掃描 形貌觀察 場發射 場發射電子槍 掃描電子顯微鏡 微區分析 形貌 線掃描 面分布 電鏡 能譜儀 能譜 樣品觀測 納米 |
| 技術指標： | 該設備性能指標：加速電壓：500V-30kV：分辨率：1.5nm/15KV，6nm/1kV；束流1pA-4nA； 能譜儀：能量分辨率：128eV 探測范圍：B4-U92？電子背散射衍射：優于10點/秒 ；利用該設備能夠進行樣品表面形貌分析同時可以進行成分分析和晶體結構分析，可以進行材料（納米材料、半導體或絕緣體）的陰極發光分析。配置有離子濺射設備，可以濺射Au和C。 |
| 知名用戶： | 清華大學 中科院 中國農大 林大 地大 |
| 技術團隊： | 北京電子顯微鏡中心建設了一支由國際知名的電子顯微學和材料科學專家為學術帶頭人、由通曉電子顯微分析理論和技術及材料科學等相關理論的優秀研究和技術人員組成且結構合理的人才隊伍，由固定和客座研究人員組成，承擔科學研究、共享服務人才培養、設備管理和維護等具體工作，固定科研和技術人員共10人，其中院士1人，教授2人，副教授2人，高級工程師4人（博士一人，碩士兩人，學士一人），工程師3人（博士）。設備運行采取責任教授和責任工程師負責制。 |
| 功能特色： | 通用型場發射掃描電鏡，適用于不揮發、非磁性、致密固體材料的形貌、成分及晶體結構觀察與分析。 |
樣品要求：
一般樣品直徑小于50mm，，高度8mm；直徑小于25mm時，高度20mm；極限尺寸直徑100mm厚度1mm。
預約說明：
首次掃描實驗測試步驟：
制備好樣品（整潔、易固定、無磁性、干燥、無碳氫化合物污染等）
建立導師賬號（預存測試費實現預約）
實驗室現場討論實施方案（實驗目的 確定使用儀器 確定制樣方法等）
樣品預處理適