殼聚糖富集火焰原子吸收光譜法測定痕量鉑(Ⅳ)的研究

摘　要: 存在于p H 5 的溶液中痕量鉑( Ⅳ) 用裝入柱中的粒度在80～150μm 的殼聚糖吸附而予以預富集。用總量為5 mL 的0. 2 mol ·L - 1硫脲溶液從殼聚糖上將鉑( Ⅳ) 洗脫,所得全部洗脫液用FAAS 法測定鉑( Ⅳ) 量,得出吸光度與鉑( Ⅳ) 濃度之間經富集后的線性回歸方程為A =0.035 C + 0. 002 5 ,相關系數為0. 999 5 ,經過吸附分離,鉑( Ⅳ) 的富集倍數達47 ,在鉑( Ⅳ) 濃度水平為1. 0 mg ·L - 1 時,測定值的RSD( n = 11) 為0. 3 % ,該方法的檢出限(3 S) 為0. 038 mg ·L - 1 。