外顯子組測序并不一定帶來正確的診斷

　　美國醫學遺傳學學會（ACMG）的臨床遺傳學年會于3月24-28日在美國鹽湖城舉行。埃默里遺傳學實驗室的研究人員在會議上表示，外顯子組測序數據的初步分析并不一定能帶來正確的診斷，需要再次檢查。

　　埃默里大學醫學院的教授、遺傳實驗室的主管Madhuri Hegde在她的報告中舉了兩個病例，說明研究人員在初步分析中如何誤入歧途，但最終通過使用不同的檢測方法，或利用不同的樣品重復外顯子組檢測，找到了真正的致病突變。她認為，外顯子組數據的再次分析和重新解釋能夠提高外顯子組測序的診斷率。

　　Hegde介紹的第一個病例是一名12歲的女孩。她具有視網膜營養不良、認知功能受損以及其他癥狀，并在埃默里遺傳實驗室接受了外顯子組測序。數據表明，其ARID1B基因的第3外顯子可能含有一個致病變異，而此基因的其他致病突變之前也有報道。

　　然而，研究人員后來發現，患者的母親也攜帶同樣的變異，但沒有類似的癥狀。進而發現，臨床實驗室用于解釋的ARID1B基因可能是不正確的。隨后，他們通過芯片檢測，發現了CLN3基因的第7和8外顯子存在缺失，而再回頭看外顯子組數據，發現這些外顯子區域的覆蓋度不佳。

　　Hegde介紹的第二個病例是一名11歲的男孩，具有發育遲緩、腦積水等癥狀。外顯子組測序發現了其L1CAM基因中有一個意義不明的變異，據報道這個變異可能引起了另一名患者的疾病，而在普通人群中未發現。

　　不過，突變并沒有解釋所有的臨床癥狀，而研究人員懷疑這名患者可能鑲嵌了另一個突變，于是他們繼續對皮膚活檢樣本進行外顯子組測序。結果，他們真的在部分皮膚樣品中發現了PIK3CA基因的致病突變。原先的樣本來自血液，故外顯子組測序并沒有發現這一突變。

　　Hegde認為，盡管在這兩個病例中，原先的外顯子組測序并沒有帶來正確的答案，但對于其他病例，外顯子組數據的再次分析可能有助于正確的診斷，因為新的致病變異正不斷發表。她的實驗室每個月都重新分析所有的外顯子組病例，檢查最新發表的致病變異，或者應醫生要求，根據新的證據重新評估某些變異。

　　她認為，對于這些重新分析，臨床團隊和分析團隊之間的互動“是非常重要的”。