多晶X射線衍射儀，也稱粉末衍射儀，通常用于測量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個部分構成：1) X 射線發生器(產生X射線的裝置);2) 測角儀(測量角度2θ的裝置); 3) X射線探測器(測量X射線強度的計數裝置); 4) X射線系統控制裝置(數據采集系統和各種電氣系統、保護系統等).
在催化、儲能、氣體分離等前沿領域，材料的晶體結構與孔道特性共同決定了宏觀性能。然而，傳統表征手段往往“各自為政”——物理吸附給出孔參數，XRD給出物相與晶格信息，卻難以揭示吸附過程中材料結構如何動態演......
近日，北京精微高博儀器有限公司（簡稱精微）宣布收購德國百年企業STOE&CieGmbH公司（簡稱STOE）。借此，精微在原有的吸附、熱分析、反應裝置、質譜等高端科學儀器產品線基礎上增加了高端單......
一、采購項目基本信息1、采購項目名稱：湖南工學院先進材料開發制備與檢測創新平臺項目2、政府采購計劃編號：湘財采計[2025]000641號3、委托代理編號：2954-20250403-5254、采購項......
1、外框部分：外框、底座、前門定位裝置，水平調整腳等。2、立柱部分：立柱、土字頭、水準器等。3、橫梁部分：橫梁、刀盒、重心砣等。4、懸掛系統：吊耳、阻尼器、稱盤等。5、制動系統：指針、光學讀數系統。6......
X射線熒光(XRF)是當原級X射線照射樣品時，受激原子內層電子產生能級躍遷所發射的特征二次X射線。該二次X射線的能量及強度可被探測，與樣品內待測元素的含量相關，此為XRF光譜儀的理論依據。根據分光系統......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味著變大,常見是摻入了比主體大的雜原子出現“摻雜”，雜質原子會使晶胞參數變大或變小；如果左移,說明晶胞參數變大,晶面間距變大；制樣時要盡量使樣品和樣品板相平,......
傅立葉變換紅外光譜儀www.okcis.cn/hyk-k230203.html的典型光路系統，來自紅外光源的輻射，經過凹面反射鏡使成平行光后進入邁克爾遜干涉儀，離開干涉儀的脈動光束投射到一擺動的反射鏡......
拿到圖譜后，用分析軟件打開（如jade),去本底，平滑，尋峰，手動添加和刪減峰，物相鑒定（根據材料的具體成分進行元素的合理選擇）,根據軟件提供的標準圖譜和自己的圖譜比對，重合性好的可以作為一種物相。......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味著變大,常見是摻入了比主體大的雜原子.出現“摻雜”,雜質原子會使晶胞參數變大或變小；如果左移,說明晶胞參數變大,晶面間距變大；制樣時要盡量使樣品和樣品板相平......
角度θ為布拉格角或稱為bai掠射角。關于XRD的測量原理比du較復雜，zhi要知道晶體學和X射線知識。簡單dao的來說（對粉末多晶）：當單色X射線照射到樣品時，若其中一個晶粒的一組面網（hkl）取向和......