多通道發光器件穩定性測量系統廣泛應用于OLED、LED等發光器件IVL、穩定性、壽命等測量。該系統可以便捷地擴展測量通道數量，且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能，從而可以適應豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。該系統是評估發光器件穩定性、壽命的必備設備，其通道可拓展功能強、測試參數全面，可提升器件測試效率。
EL-Lab 多通道電致發光特性測量系統是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平臺中的 重要成員，與東譜科技的絕對法電致發光特性測量系統 HiYield 共同為行業提供了完 善的電致發光的測量方案。
EL-Lab 系統由一系列相應的分布測量組件組成，包括光電測量模塊、亮度校準模塊、 光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用于不同類型器件的 測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量，且可以為不同的測試通道配備相同 或者差異的測試功能，從而可以適應豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測量、變 溫測量、老化測量等。
EL-Lab 多通道電致發光特性測量系統可以實現電致發光器件的以下測試
l 發光效率參數：外量子效率、電流效率、功率效率等；
l 電學參數：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率密度等；
l 輻射度學參數：光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長等；
l 光度學參數：亮度、光通量等；
l 色度學參數：CIE 色度坐標、相關色溫（CCT）、MK-1、顯色指數等；
l 器件老化參數：不同老化時間下的上述參數；
l 變溫測量等。
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