如何根據紅外光譜圖進行聚合物未知結構的鑒定

如何利用紅外光譜進行未知物結構的測定 測定未知物的結構，是紅外光譜法定性分析的一個重要用途。如果未知物不是新化合物，可以通過兩種方式利用標準譜圖進行查對： （1）查閱標準譜圖的譜帶索引，與尋找試樣光譜吸收帶相同的標準譜圖； （2）進行光譜解析，判斷試樣的可能結構，然后在由化學分類索引查找標準譜圖對照核實。 在對光譜圖進行解析之前，應收集樣品的有關資料和數據。了解試樣的來源、以估計其可能是哪類化合物；測定試樣的物理常數，如熔點、沸點、溶解度、折光率等，作為定性分析的旁證；根據元素分析及相對摩爾質量的測定，求出化學式并計算化合物的不飽和度： 不飽和度W=1+n4+(n3-n1)/2
式中n4、n3、n1、分別為分子中所含的四價、三價和一價元素原子的數目。 W=0時，表示分子是飽和的，應在鏈狀烴及其不含雙鍵的衍生物。W=1時，可能有一個雙鍵或脂環；W=2時，可能有兩個雙鍵和脂環，也可能有一個叁鍵；W =4時，可能有一個苯環等。
譜圖解析一般先從基團頻率區的最強譜帶開始，推測未知物可能含有的基團，判斷不可能含有的基團。再從指紋區的譜帶進一步驗證，找出可能含有基團的相關峰，用一組相關峰確認一個基團的存在。對于簡單化合物，確認幾個基團之后，便可初步確定分子結構，然后查對標準譜圖核實。