| 儀器名稱： | 存儲器老化測試系統-IT&T B3000ES |
| 儀器編號： | 18026683 |
| 產地： | 156 |
| 生產廠家： | IT&T CO.,Ltd |
| 型號： | B3000ES |
| 出廠日期： | |
| 購置日期： | 2018/10/25 |
| 所屬單位： | 集成電路學院>微納加工平臺>高精尖 |
| 放置地點： | 荷清大廈高精尖一層實驗室 |
| 固定電話： | |
| 固定手機： | 15510039166 |
| 固定email： | dengmeijing@mail.tsinghua.edu.cn |
| 聯系人： | 鄧美靜（010-62791168,15510039166,dengmeijing@mail.tsinghua.edu.cn） |
| 分類標簽： | 集成電路 |
| 技術指標： | 1、 ALPG存儲器自動算法產生功能，X/Y/Z Address:為X24/Y24/Z24 bits,Data: 為36bit*2, Index Register: 為32bit*8； 2、DBM: 為16Gb, AFM: 為2Mb/Dut； 3、 Instruction Memory Depth: 為1KWord； 4、測試系統頻率：為200Mhz/400Mbps； 5、Pin Electronics Board： VIH >=3.7V, VIL<=0.4mV, 精度±(1%+5mV)； VOH >=3.7V, VOL<=0.4mV, 精度±(1%+5mV)； 6、 PPS Board： 電壓范圍及精度：為 -1~4V，精度±(1%+5mV)； 滿足≤1uA的電流測試； 7、 Chamber可控溫度范圍及精度：50℃~125℃, ±3℃； |
| 知名用戶： | 吳華強（微電子） |
| 技術團隊： | 測試工作由實驗室資深的工程師或者技術人員進行操作和支援。 |
| 功能特色： | 這套系統可以在高溫環境下進行pattern測試，測試集成電路的可靠性。 |
| 項目名稱 | 計價單位 | 費用類別 | 價格 | 備注 |
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| 存儲器老化測試系統測試費 | 元/小時 | 自主上機機時費 | 120.0 |