學者綜述二次離子質譜技術發展

近日，應《自然-綜述-方法導論》（Nature Reviews Methods Primers）的邀請，香港科技大學（廣州）教授翁祿濤與合作者共同撰寫了題為《二次離子質譜》（Secondary ion mass spectrometry）的綜述論文，同期還配發了導論總覽（PrimeView）對該論文進行推介。

“二次離子質譜”是一種用于分析固體材料化學成分及其在二、三維分布的技術，因具有極高的成像空間分辨率和靈敏度，在材料科學，生命科學和地球科學有廣泛應用。此次翁祿濤等學者撰寫的綜述系統地介紹該技術的基本原理、設備構造及數據解析，總結了該技術在先進材料與表面科學、半導體器件、生命科學和地球科學等領域的最新應用，并梳理了該技術現有的挑戰和未來的發展方向。

記者獲悉，論文共同第一單位為香港科技大學（廣州）、材料表征與制備中央實驗室（MCPF）、功能樞紐先進材料學域和廣州市材料信息學重點實驗室。

翁祿濤負責的MCPF擁有一臺新型飛行時間二次離子質譜儀，同時具有極高成像空間分辨率和超高質量分辨率，是中國第一臺同類型的先進科學儀器。此外，MCPF還擁有許多世界先進的儀器設備，可以從宏觀到原子尺度深入探索材料的成分、形貌、結構以及功能性質，目前MCPF已對外實現儀器開放共享，正在為港科大兩校園、校外高校和科研院所及大灣區工業界的基礎研究提供高質量服務。

相關論文信息：https://doi.org/10.1038/s43586-024-00311-9