類似于UV檢測器上的吸光度在背景值上信號的垂直增加,表示某特定離子的強度(當x軸被校正為質量單位)或存在的總離子強度(當水平軸被校正為時間或掃描)。
單個被測物或化合物產生的所有碎片離子分別與基峰相比的值(每個離子的相對豐度)被作為該化合物的特定碎裂模式,進行質譜圖。
