布魯克公司于2015年7月9日，在德國柏林發布了最新的掃描電鏡透射菊池衍射專用探頭OPTIMUSTM TKD。這一革命性的產品最大的特點是配置了可直接置于透射樣品下面的水平式磷屏。OPTIMUSTM可與布魯克所有e-Flash 傳統豎直磷屏EBSD探頭互換，實現一個探頭提供EBSD和TKD兩種最優解決方案。
OPTIMUSTM TKD提供了TKD技術最優的幾何結構。與采用傳統豎直磷屏EBSD的TKD相比，具有兩方面的優勢，即，可從信號最強的地方采集Kikuchi花樣；最大程度的消除花樣畸變。一方面，由于OPTIMUSTM采集信號的增強，與傳統TKD相比，用戶可在相同的掃描電鏡束流條件下獲得更快的采集速度或者采用更低的束流，以獲得更好的空間分辨率。同樣，由于低能電子更利于在晶格衍射，可通過降低掃描電鏡加速電壓分析更薄的樣品。另一方面，Kikuchi花樣畸變越小，越有利于花樣探測和標定精度。
OPTIMUSTM 還可以用于獲得類似于透射電鏡才能觀察到的選區電子衍射花樣（SAED）。然而，購買掃描電鏡加上OPTIMUSTM成本僅僅是購買透射電鏡的一小部分。
布魯克獨有的ARGUSTM成像系統與OPTIMUSTM集成，可以成與透射電鏡相似的明場像和暗場像，并能觀察到納米尺度的微觀結構，甚至是變形材料內部的單一位錯和位錯墻。
OTPIMUSTM TKD探頭能夠與所有的e-Flash EBSD探頭兼容。布魯克已有EBSD用戶均可升級OTPIMUSTM，用戶經培訓后可自行更換傳統EBSD探頭和OTPIMUSTM TKD探頭。取決于要分析的樣品，用戶可自由切換傳統EBSD和OTPIMUSTM。OTPIMUSTM能夠與布魯克TKD樣品臺及所有布魯克XFlash?能譜探頭聯用。
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李慧
中國區銷售經理
布魯克納米分析儀器部
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郵箱：hui.li@bruker.com
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