日立高新正式推出掃描電鏡SU7000,實現高通量觀察與分析

　　2018年7月31日，日立高新技術公司（以下簡稱“日立高新”）正式推出肖特基場發射掃描電鏡SU7000，它縮短了通過采集多種信號獲取樣品多種信息的時間，真正實現了高通量的觀察與分析。

SU7000

　　掃描電子顯微鏡（SEM）可通過檢測樣品激發出的二次電子、背散射電子、X射線等信號，獲得從微細結構到組成成分等各種信息，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生物、材料等諸多領域。隨著SEM的應用范圍在不斷擴大，對觀察時間的縮短、信號的迅速高效采集提出了更進一步的需求。

　　此次推出的SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據獲得的信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱WD），以設置最佳的觀察與分析條件，而SU7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。

　　而且，SU7000還配置了可同時6通道顯示界面（前代機型只能同時顯示4通道），進一步升級SEM控制系統，大幅提高了信號獲取速度，由此實現了樣品的高通量觀察。

　　它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。

　　日立高新技術將在8月5日（星期日）~8月9日（星期四）在美國馬里蘭州舉辦的“Microscopy & Microanalysis”及9月5日（星期三 ）~9月7日（星期五）在幕張展示中心（千葉縣千葉市）舉辦的“JASIS 2018”上展示這款SU7000，預計每年全球銷量有望達150臺。

　　日立高新技術科學系統事業部以2020年成為電子顯微鏡行業全球第一為中期戰略目標，今后仍將全力推動產品研發與市場推廣，努力為全球制造業作出更大的貢獻。作為最先進、最前沿的事業創新型企業，今后以成為提供高新技術和解決方案的全球一流企業為目標，始終站在客戶的立場，快速滿足客戶和市場需求。

【主要特點】

　　1．在相同WD的條件下，可同時實現二次電子、背散射電子觀察與X射線熒光分析

　　2．最多可同時實現6通道檢測與顯示

　　3．在最大像素10240 x 7680時，也可獲得圖像數據

　　4．同級別*設備中最多的可配置18個附件接口

　　5．支持最低300Pa的低真空模式（選配）

　　*空間分辨率在1 nm/1 kV以下

【主要規格】

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