日立高新技術上市可進行穩定納米級分析的透射式電子顯微鏡
日立高新技術（Hitachi HighTechnologies）2007年5月14日推出了新型場發射型透射式電子顯微鏡（FE-TEM）“HF-3300型”，分辨率為0.1nm、能夠以納米級別的分辨率穩定地分析原子水平的極微小材料。
新產品采用了冷陰極場發射電子槍，具有高亮度和高分辨率。同時通過在電子槍上結合使用300kV的高加速電壓，實現了高穩定性。作為一種分析電鏡，除配置能量色散型X射線分析裝置（EDX）和電子能量損失譜儀（EELS）外，還支持電子束全息攝影、位置分析型EELS及納米電子束衍射等新分析方法。
HF-3300型新型場發射型透射式電子顯微鏡（FE-TEM）
透射式電子顯微鏡的加速電壓越高，分辨率和透射力就越出色。在原子序數大、電子束難以穿透的金屬及陶瓷的觀察方面，可發揮300kV高加速電壓的優點，無論試料的厚度和構成如何，均可進行穩定的超高分辨率觀察。
該產品標準價格為2億8500萬日元。預計07年度可獲得5臺訂單。預定從07年9月開始供貨。
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