梅特勒新型天平――更強技術，更高性能

   梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵蓋了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液體自動加樣模塊。憑借最新的靜電消除、智能秤盤以及狀態指示燈技術，新型XPE天平可以保證測量結果的穩定性和合規性，幫助客戶輕松實現無憂測量。