2019-10-08作者：瀏覽次數：37 來源：濟南微納科技有限公司
粉體材料有許多物理學指標值，關鍵體現在構成粉體設備材質顆粒物的某些主要參數，包含粒度分布、粒形、面積、直徑、感應起電特點及其沉積特性和流通性能等。粒度分布檢測是一種跨學科、跨行業技術性，它必須朝向十幾個行業中的各式各樣粉體設備和各有不同的客戶，因而規定從業顆粒物檢測工作中的工作人員具備豐富多彩的基礎知識和社會經驗。在其中基礎知識包含顆粒物學、物理、有機化學、材料學、結構力學、機械學、電磁學和電子計算機學等眾多課程，社會經驗則必須慢慢積淀，在工作中和學習培訓中明顯提高，因而粒度分布檢驗是這項專業能力和理論性都較強的工作中。
(1) 激光器法：
優勢：實際操作簡單，檢測更快，檢測范疇大，可重復性和精確性好，可保持自動測量和干發精確測量。
缺陷：結果受遍布實體模型危害很大，儀器設備工程造價較高。
(2) 動態性圖象法：
由光學顯微鏡、高速攝像機、試品分散系統、自動控制系統及其髙速圖像檢測手機軟件構成。優勢：顆粒物圖象形象化清楚，實際操作簡單、拍攝與剖析更快、可重復性和精確性好，可干發也可濕式，可精確測量較大顆粒物，可開展環形度、長徑比等外貌剖析。
缺 點：剖析細顆粒物（如-2 μm ）圖象不清楚，偏差很大，成本費較高。
(3) 靜態數據圖象法：
由光學顯微鏡、監控攝像頭和圖像檢測手機軟件構成。優勢：成本費較低，使用方便，圖象清楚、可開展環形度、長徑比等外貌剖析。缺陷：剖析很慢，沒法剖析細 顆粒物（如-2 μm ）。
(4) 電鏡法：
用透射電鏡（sem或透射電鏡）拍攝顆粒物圖象，隨后再開展圖象 剖析的方式 。優勢：能精準剖析納米技術顆粒物和極細顆粒物，圖象清楚，表層紋路看得見，像素高，是定性分析納米材料粒度分布的規范方式 。
缺陷：單幅圖象中的顆粒物數少、象征性差、儀器設備較貴。
(5) 光阻法：
優勢：檢測更快，能測液體或汽體中顆粒物數，理解能力高，試品使用量少。
缺陷：進樣系統軟件非常復雜，不適合粒度<1μm 的試品。
(6) 電阻器法：
優勢：實際操作簡單，能測顆粒物數，等效定義確立，更快，精確性好。
缺陷：不宜精確測量極細試品和寬遍布試品，拆換小圓孔管較為不便。
(7) 地基沉降法：
優勢：實際操作簡單，儀器設備能夠持續運作，價錢較低，精確性和可重復性不錯，檢測范疇很大。
缺陷：檢測時間較長，實際操作較繁雜，結果易受環境要素危害。
(8) 篩選法：
優勢：簡易、形象化、機器設備工程造價低，常見于超過 38 μm
（400
目）的試品。
缺陷：不可以用以極細試品；結果受人為失誤和圓孔篩形變危害很大。
(9) 動態光散射法：
動態光散射法是檢測納米材料粒度分布的常見方式 。最先將納米技術顆粒物放進適合的液體（一般 為礦泉水）中做成混液，混液中的納米技術顆粒物因為遭受 水分子熱運動（布朗運動）的撞擊而開展不規律健身運動。當一縷水準偏振的激光器照射這種顆粒物處時，會在造成的散射光強的一瞬間轉變。這種一瞬間轉變的散射光數據信號的力度、頻率等特點與顆粒物尺寸相關，對這種數據信號開展有關與運算就能夠獲得呢米顆粒物的粒度分布了。.
優勢：檢測范疇寬（從納米技術到μm）、檢測更快，可重復性好，實際操作簡單。缺陷：檢測寬遍布的納米材料偏差及很大。
(10)超音波法：
優勢：可對高濃料漿立即當場精確測量，不用抽樣。缺陷：像素較低，精確性和可重復性較弱，結果受環境要素危害很大。
(11)透氣性法（費氏法）：
優勢：儀器設備價格便宜，無需對試品開展分散化，可立即精確測量粉劑，能測永磁材料粉體設備。
缺陷：只有獲得均值粒度分布值，不可以測粒度分布。
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