氣相色譜15種常見峰形異變來源解析（一）

  在日常色譜定量分析中，出現色譜峰形異變或鬼峰，不但嚴重影響定量精度，甚至使分析工作無法進行，為此我們把峰形異變常見類型(15種)加以分析，并給出可能原因，供工作經驗不足的色譜工作者參考。我們在此討論的峰形異變是指在色譜分析方法確定后，與曾經記錄的已知色譜圖比較時，出現某些色譜峰形的偏離畸變或多余峰。或者說，對于一已經設立好的色譜分析方法，由于不要求或出于無奈時有些峰分離不開、拖尾或峰形不對稱等并不影響方法的實施情況，不屬于上述因儀器故障、經驗不足或操作失誤造成的峰形異變。否則需要重新審定或修改原來的分析方法。另外，還應指出：由于無亂安裝使用沒有評價過的色譜柱可能出現的峰形拖尾，分離不好或峰形畸變，也不屬于討論內容。顯然叫一個普通色譜分析工作者，在常規工作條件下去判斷色譜柱的優劣，要求似乎高了一些。在懷疑峰形異變尋找可能原因、排除方法之前最好先做以下工作：

　　仔細核查操作條件，與分析方法要求是否一致;

　　和當初分析所存的標準色譜圖對照，判斷是否真出了問題;

　　逐項仔細觀察儀器或設備工作狀態，看有無操作失誤而引起的出峰失常;

　　然后在依據以下15種異常峰形分析可能原因與排除方法。

　　1.臺階峰：

　　(1)TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕;

　　(2)氣體流量突變如：注射墊突然漏氣，氣路受阻等;

　　(3)記錄色譜峰裝置故障如：拉線松;

　　2.負峰：

　　(1)TCD用氮做載氣，由于待測組分在N₂中濃度不同，熱傳導值呈現非線性而可能出現負峰,有時可以通過改變載 氣流量或進樣量克服;

　　(2)操作ECD時進樣量過大而出負峰，這是由于工作原理由電子捕獲轉變為電離檢測，此時靈敏度還會大大降低;

　　(3)操作FID，低電離效率的溶劑(如，CS₂)或雜質出現，使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負峰;

　　(4)操作FID，在無極化電壓，樣品量較大可能出現負峰;

　　(5)操縱NPD、FPD時氣流比不合適，溶劑或某些組分會出現負峰;

　　3.“N”或 “W”峰：

　　(1)TCD操作，用N2作載氣由于熱傳導率非線性引起;

　　(2)FID操作時，樣品溶劑電離效率低(如，CS₂)，或氣流比欠佳時;

　　(3)ECD操作時，由于檢測器被污染，溶劑峰或待測組分含量較高，或脈沖電源有毛病;

　　4.舌頭峰(前延峰)：

　　(1)汽化溫度偏低;

　　(2)載氣流量小：

　　(3)進樣量大，汽化時間長;

　　(4)汽化室被污染，樣品有吸附效應;

　　(5)樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染;

　　(6)進樣技術差(揮發性組分的進樣速度太慢);

　　(7)峰前出現了“鬼”峰。

　　5.拖尾峰：

　　(1)色譜柱安裝不合格，樣品不能以“塞子”形進入色譜柱，柱與檢測器安裝的死體積太大;

　　(2)樣品未能注射入柱頭中(柱頭進樣方式);

　　(3)汽化管沒有安裝好或破損，樣品只能脫尾進入色譜柱;

　　(4)化室的溫度低或偏高;

　　(5)載氣流量偏低;

　　(6)進樣量大;

　　(7)載氣系統(如注射墊處)有漏氣;

　　(8)進樣器(汽化室)，被樣品中高沸點雜質或注射墊殘渣污染;

　　(9)色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點污染物作用;

　　(10)補充氣未開或偏低;

　　(11)色譜柱溫度偏低或失效;

　　(12)甲烷化Ni催化劑失效;

　　(13)進樣技術差(如速度不合適);

　　(14)正好有干擾峰(鬼峰)出現(如誤用被污染的注射針);

　　(15)無極化電壓(FID)，此時伴隨靈敏度偏低;

　　(16)樣品前處理有毛病;

　　6.出峰后基線下移：

　　(1)樣品量大，特別是溶劑改變了工作狀態;

　　(2)FID被污染狀況發生改變，或氣流比發生變化;

　　(3)系統出現漏氣，或出現堵塞;

　　(4)色譜柱被污染;

　　(5)樣品處理不當，如：樣品中有些物質和固定相發生作用;

　　7.程序升溫時基流增加(漂移大)，噪聲增加：

　　(8)色譜柱需重新老化或失效;

　　(9)新換載氣純度欠佳;

　　(10)過濾器失效;

　　(11)樣品前處理不當，如：雜質干擾物太多;

　　(12)靈敏度太高。

　　(13)數據處理裝置的判峰參數設置不合理。