水分、烴類和氧氣對色譜分析的影響
在色譜分析過程中，存在氣源管路及氣瓶中的水分、烴類、氧會產生噪聲、額外峰和基線毛刺，尤其對特殊檢測器（如ECD\PID）影響更為明顯，極端情況下還會破壞色譜柱。
通常水分存在于氣體容器的表面和氣路管路內，其不僅影響組分的分離，還會使部分固定相或硅烷化擔體（甚至包括某些樣品）發生水解，縮短色譜柱的壽命，產生基線噪音和拖尾現象。
氧的破壞作用最嚴重，即使很微量的氧也會破壞毛細管柱以及極性填充柱，氧會使固定相氧化，從而破壞色譜柱性能和色譜柱壽命，改變樣品的保留值；氧化物還會引起基線噪聲和漂移，并隨著柱溫的升高破壞性急劇增大，對特殊檢測器以及高靈敏度檢測器樣的破壞作用更加明顯，尤其是TCD和GC-MS，氧會直接燒毀熱絲和燈絲。
氣體中有機化合物（烴類）或其它雜質的存在則會產生遠高于正常的基線噪音和鬼峰，影響痕量和微量組分的判定，見下圖，（作為FID助燃氣的）空氣中的烴類雜質會引起FID基線噪聲干擾：
采用空氣發生器直接壓縮室內空氣，未接凈化器，基線干擾較大；使用鋼瓶空氣和串接零級空氣發生器之后，基線明顯得到改善。
當然，氫氣中的雜質也會影響基線噪聲，如果氫氣純度不夠雜質過多，會引起基線噪聲過大。
此外，氣體中夾帶的粒狀雜質可能會使氣路控制系統失靈。