沉降法測納米粒度

   材料顆粒度分析的方法以有很多，現已研制并生產了200多種基于各種工作原理的分析測量裝置，并且不斷有新的顆粒粒度測量方法和納米粒度儀研制成功。雖然粒度分析的方法多種多樣，基本上可歸納為以下幾中方法。傳統的顆粒測量方法有篩分法、顯微鏡法、沉降法、電感應法等，近年來發展的方法有激光衍射法、激光散射法、光子相干光譜法、電子顯微鏡圖象分析法、基于顆粒步朗運動的粒度測量法及質譜法等。其中激光散射法和光子相干光譜法由于具有速度快、測量范圍廣、數據可靠、重復性好、自動化程度高、便于在線測量等優點而被廣泛采用。
    沉降法（sedimentationsizeanalysis）的原理是基于顆粒處于懸浮體系時，顆粒本身中立（或所受離心力）、所受浮力和黏滯阻力三者平衡，并且黏滯力服從斯托克斯原理來實施測定的，此時顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降，而且沉降速度與粒度大小的平方成正比。值得注意的是，只有滿足下述條件才能采用沉降法測定顆粒粒度；顆粒想狀應當接近于球形，并且完全被液體潤濕；顆粒在懸浮體系的沉降速度是緩慢而恒定的，而且達到恒定速度所需時間很短；顆粒在懸浮體系中的布朗運動不會干擾其沉降速度；顆粒間的相互作用不影響沉降過程。測定顆粒粒度的沉降法分為重力沉降法分為重力沉降法和離心沉降法兩種，重力沉降法適于粒度為2~100m的顆粒，而離心沉降法適于粒度為10m~20m的顆粒。由于離心式納米粒度儀采用斯托克斯原理，所以分析得到的是一種等效粒徑，粒度分布為等效秋重均粒度分布。
    一般高速離心沉降適合于納里材料的粒度分析。目前較通行的方法就是消光沉降法，由于不同的粒度的顆粒在懸浮體系中沉降速度不同，同一時間顆粒沉降的深度也就不同，因此，在不同深度處懸浮液的密度將表現出不同變化，根據測量光束通過懸浮體系的光密度變化便可計算出顆粒粒度分布。其優點是測量質量分布。其優點是測量質量分布，代表性強，測試結果與納米粒度儀的對比性好，價格比較便宜。缺點是對于小粒子的測試速度慢，重復性差；對非球形粒子的誤差大，不適合于混合物料，動態范圍比激光衍射法窄。