據波通社網站4月24日報道，波蘭雅蓋隆大學的一個研究團隊與來自西班牙、法國和新加坡的研究人員合作，開發了一種研究原子尺度微小物體中電子輸運的新方法。
為了測量納米尺度的電子輸運，研究人員使用了掃描隧道顯微鏡（STM）和兩個獨立的帶有極其精確的“銳化”Pt/Ir尖端的測量探針。目前，單樣品STM顯微鏡主要用于獲得具有原子分辨率的導電材料的電子結構圖像。
研究人員展示了如何將STM雙樣本的功能擴展到對選定材料表面電子輸運的詳細研究，特別是他們描述了如何使用這樣的工具以前所未有的精度測量通過原子“納米線”的電子流動。該“納米線”自然形成在適當制備的半導體晶體表面。
相關研究論文發表于《自然通訊》雜志上。
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