測汞儀消除干擾的方式

一般可以利用貴金屬捕集器使汞被截留，使干擾氣體逸去；或者使樣品氣流分成兩股，將一股中的汞事先移除，然后比較同一光源通過兩個吸收室時的輸出;利用壓致展寬效應將通過吸收室后的光線分成兩股，一股再通過飽和汞蒸氣室，然后測量兩股透出光線強度的比值;或者利用“塞曼效應”，比較在光源上施加磁場與不加磁場時，通過吸收室的光線強度的比值等。