測量從形式上可分為哪幾類

直接測量：無需對被測量與其他實測量進行一定函數關系的輔助計算而直接得到被測量值得測量。
　　間接測量：通過直接測量與被測參數有已知函數關系的其他量而得到該被測參數量值的測量。
　　接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面直接接觸，并有機械作用的測力存在。
　　不接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面之間沒有機械的測力存在（如光學投影儀和氣動量儀測量等）。
　　組合測量：如果被測量有多個，雖然被測量（未知量）與某種中間量存在一定函數關系，但由于函數式有多個未知量，對中間量的一次測量是不可能求得被測量的值。這時可以通過改變測量條件來獲得某些可測量的不同組合，然后測出這些組合的數值，解聯立方程求出未知的被測量。

　　比較測量：比較法是指被測量與已知的同類度量器在比較器上進行比較，從而求得被測量的一種方法。這種方法用于高準確度的測量。