涂層測厚儀／漆膜測厚儀操作注意事項

涂層測厚儀/漆膜測厚儀操作注意事項
由于電磁場在不同表面結構有不同的分布形式，從而導致測量誤差。為避免因操作而引起的誤差，在使用時，請遵循以下原則：
1、在同一點重復測量時，每次將探頭離開10cm以上，間隔幾秒鐘后再測，避免被測材料因探頭磁化后，影響下次測量結果；
2、使用時，平面調零測平面，凸面調零測凸面，凹面調零測凹面，避免因結構不同而產生測量誤差；
3、盡量使用被測材料作為調零基體，避免因不同材料的導磁性不同，而出現測量誤差；
4、盡量在被測材料的同一部位調零后，再測相同部位。例如，在工件邊緣和中間部位應分別調零；
5、做調零用的表面，要盡量光滑；被測材料表面的粗糙度對測量數值影響很大，如果表面不光滑，應視情況取平均值；
6、測量時，探頭要保持與被測料面垂直，否則會產生較大誤差。
任何覆蓋層物質
一.推動指輪時，不要觸動按鈕； 盡量保證測量點與兩支撐點在同一平面上；
二. 在粗糙表面測量時，讀數將偏大。要多次測量求取平均值；
三.測量柱體或圓形邊緣時，一定要利用儀器測嘴的V型口；
四.測量含碳量高或經過熱處理后的硬質鋼上涂層時，測值會偏大； 基體厚度小于臨界厚度時，測值會偏大； 在凸凹測量會對測值有影響，在凸面時測值偏大、凹面時測值偏小；
五、MikroTest涂層測厚儀的維護與保養 　　
保證測厚儀遠離*磁鐵或電磁鐵，遠離強磁場、強電場； 切勿猛烈碰撞 ，測厚儀使用完后指輪一定要反時針旋轉到二分之一刻度以上的位置再放置在存放點；

涂層測厚儀/漆膜測厚儀操作注意事項
1基體金屬特性，對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。 　
2基體金屬厚度，檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準
3 邊緣效應，不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。 　　
4曲率，不應在試件的彎曲表面上測量。 　　
5 讀數次數，通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。 　　
6 表面清潔度，測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去