電渦流測厚法主要應用

磁感應原理是利用測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準容易，可以實多種功能，擴大量程，提高精度，由于測試條件可降低許多，故比磁吸力式應用領域更廣。

　　當軟鐵芯上繞著線圈的測頭放在被測物上后，儀器自動輸出測試電流，磁通的大小影響到感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。早期的產品用表頭指示，精度和重復性都不好，后來發展了數字顯示式，電路設計也日趨完善。近年來引入微處理機技術及電子開關，穩頻等zui新技術，多種獲ZL的產品相繼問世，精度有了很大的提高，達到1%,分辨率達到0.1μm，磁感應測厚儀的測頭多采用軟鋼做導磁鐵芯，線圈電流的頻率不高，以降低渦流效應的影響，測頭具有溫度補償功能。由于儀器已智能化，可以辨識不同的測頭，配合不同的軟件及自動改變測頭電流和頻率。一臺儀器能配合多種測頭，也可以用同一臺儀器。可以說，適用于工業生產及科學研究的儀器已達到了了非常實用化的階段。

　　利用電磁原理研制的測厚儀，原則上適用所有非導磁覆層測量， 一般要求基本的磁導率達500以上。覆層材料如也是磁性的，則要求與基材的磁導率有足夠大的差距(如鋼上鍍鎳層)。磁性原理測厚儀可以應用在精確測量鋼鐵表面的油漆涂層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，化工石油行業的各種防腐涂層。對于感光膠片、電容器紙、塑料、聚酯等薄膜生產工業，利用測量平臺或輥(鋼鐵制造)也可用來實現大面積上任一點的測量。

　　電渦流測厚法主要應用于金屬基體上各種非金屬涂鍍層的測量。利用高頻交流電在作為探頭的線圈中產生一個電磁場，將探頭靠近導電的金屬體時，就在金屬材料中形成渦流，且隨與金屬體的距離減小而增大，該渦流會影響探頭線圈的磁通，故此反饋作用量是表示探頭與基體金屬之間間距大小的一個量值，因為該測頭用在非鐵磁金屬基體上測量覆層厚度，所以通常我們稱該測頭為非磁性測頭。非磁性測頭一般采用高頻高導磁材料做線圈鐵芯，常用鉑鎳合金及其它新材料制作。與磁性測量原理比較，他們的電原理基本一樣，主要區別是測頭不同，測試電流的頻率大小不同，信號大小、標度關系不同。在zui新的測厚儀中，通過不斷改進測頭結構，在配合微電腦技術，由自動識別不同測頭來調用不同的控制程序，分別輸出不同的測試電流和改變標度變換軟件，終于使兩種不同類型的的測頭接與同一臺測厚儀上，降低了用戶負擔，基于同一思想，可配接達10種側頭的測厚儀極大地擴展了測厚范圍(達10萬倍以上)，可測包括導磁材料表面上的非導磁覆層，導電材料上的非導電覆層及不導電材料上的導電層，基本上滿足了工業生產多數行業的需要。

　　采用電渦流原理的測厚儀，原則上所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導電層。覆層材料也可以有一定的導電性，通過校準同樣也可以測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3～5倍以上(如銅上鍍鉻)。

　　校準的原則是沒有覆層的校準試樣與被測物的基材應有：成分相同，厚度相同(主要在于厚度小于儀器規定的zui小值約0.5mm以下時)，有相同的曲率半徑，如被測面積小于儀器技術參數的要求(直徑約20mm以下)，還應有相同的被測面積。如覆層含有導電成份，校準試樣的覆層也應與被測物的覆層有相同的導電性能。校準試樣的覆層經過其它(包括有損測試方法)測試后標定厚度或用已標定的校準薄片做覆層，就可以在其上面按說明書的方法校準測厚儀。校準后就可以在被測產品上進行快速無損檢測。校準薄片一般用三醋酸酯薄膜或經苯酚樹脂浸漬過的硬紙。

　　微電腦測厚一般有多個校準值存貯。隨著被測產品的不同位置、材料變化、更換測頭等均可分別校準并存貯。實際使用時直接調用各校準值，就無須重新調校了。這即是所謂“速換基準”。大大提高了檢測效率。

　　涂層測厚儀的無損檢測方法與原理-影響測量值的因素與解決方法

　　使用測厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的，所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性。