QCM并不是只對單層質量敏感,當芯片上的吸附層為剛性吸附的時候,可以通過sauerbery方程來計算吸附層質量的變化,這個與單層和多層無關。如果你要測的樣品并不是剛性吸附,而是粘彈性吸附,則無法通過頻率來計算質量變化。新型的石英晶體微天平QCM-D,可以同時測量吸附成的耗散變化,可以同時提供在吸附過程的頻率變化和耗散變化圖。