離子阱質譜在高質量范圍內測定寡糖化合物（二）

實驗結果和結論

3.1 高質量校正結果和圖譜

按照說明書配好高質量校正所需濃度的PPG 2700校正液, 得到的PPG 2700標準的校正圖譜如下：

圖1中紅色標記的峰為高質量校正的基準峰。需注意，在進行高質量校正之前，應在常規質量范圍內（50-2000 amu）做徹底的校正，并通過所有校正項目。　

3.2 寡糖類混合物的質譜圖分析

從圖2 中，可以看出從450到4000 amu質量段LTQ線性離子阱質譜可以得到清晰的質譜圖，圖中每個峰的間隔為162，這是典型的寡糖類化合物的質譜出峰，162為C6H10O5葡萄糖結構單元。

3.3衍生化寡糖類混合物的質譜圖分析

如圖3和圖4所示，衍生化后寡糖混合物的質譜峰間隔發生明顯變化，由原來的162變成204，相差42，說明寡糖類化合物發生修飾，并且可以推斷為葡萄糖結構單元中三個裸露的羥基（-OH）被甲基（-CH3）保護，變成六碳糖的全甲基化的殘基。

結論

從以上實驗可知，LTQ二維線性離子阱質譜在普通質量范圍 （50-2000 amu）和高質量范圍（200-4000 amu）均能得到優質的質譜圖，寡糖類化合物分子量范圍覆蓋寬而高，LTQ完全可以滿足類似于該類化合物的分析檢測，對于推斷糖基團的種類，修飾和數目提供有力的依據。