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  • 發布時間:2022-09-25 15:43 原文鏈接: 簡述x射線熒光光譜測厚儀特色

      1.可測量0.01um-300um的鍍層。

      2.可做各種鍍層(多層、合金、多層鎳)的精密測量。

      3.除平板形外,還可測量圓形、棒形(細線)等各種形狀。

      4.可制作非破壞性膜厚儀的標準板。

      5.該電鍍膜厚檢測儀可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度。

      6.可高精度測量其他方式不易測量的三層以上的鍍層。

      7.可對測量數據進行統計處理,以及和逐級進行共同管理。

      8.標準板校正值的計算和設定可自動進行,非常簡單。

      9.有微處理器來進行計算、儲存、思考。

      10.本膜厚儀采用全對話是操作,因此,只要依據測量條件來進行設定就可測量情況,非常簡單。

      11.多可設定四層鍍層,而每一層均可進行統計處理。例如:測量條件、平均值、值、小值、上下限值、直方圓均可進行計算并可有列印機印出,制作測量報告很容易。

      12.每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動標準的選擇,均可由電鍍膜厚檢測儀的微處理器自動判斷、設定。

      13.測量數據可由通訊網路來傳輸,所以能和主機共同進行數據管理。

      14.由于分解速度差距分得很細,因此可縮短測量時間。

      15.可分離測量銅(合金)上的錫(合金)鍍層間的擴散(合金)層。

      16.由于可儲存64個不同的測量情況,所以有相同的測量情況時,就不必再進行設定。

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