紫外可見分光光度計基線平直度

一、基線平直度的重要性(對分析測試誤差的影響)
    如第四節所述, 紫外可見分光光度計的光度噪聲直接影響儀器的信噪比,它是限制分析檢測濃度下限的主要因素。目前, 各國紫外可見分光光度計的生產廠商, 給出的整機光度噪聲都是指儀器在500nm 處的光度噪聲( 稱之為整機的光度噪聲) , 主要用于比較不同儀器的優劣。而紫外可見分光光度計的使用者往往要在不同波長上使用, 特別要在紫外區使用。所以, 只給出500 nm處的整機光度噪聲, 不能滿足使用者的要求。因此, 提出了基線平直度的概念。紫外可見分光光度計的基線平直度是指每個波長上的光度噪聲, 它是用戶
最關心的技術指標之一。它是紫外可見分光光度計各個波長上主要分析誤差的來源之一。它決定紫外可見分光光度計在各個波長下的分析檢測濃度的下限。但是很可惜, 目前很多儀器制造者、使用者都還沒有認識到或還沒有重視基線平直度這個技術指標。
二、基線平直度的測試方法
    目前, 國際上對紫外可見分光光度計的基線平直度的測試方法一般是冷態開機, 預熱0. 5h 后, 試樣和參比比色皿都為空氣, 光譜帶寬SBW = 2 nm, 吸光度值為0Ab s , 從長波向短波方向對儀器進行全波長慢速( 或中速) 掃描。而后, 在全波長范圍內, 找出峰-峰( P-P) 值中最大的一點, 作為該儀器的基線平直度。但是目前, 國際上有許多科技工作者不注意這個問題。如日本某紫外可見分光光度計, 給出的儀器波長范圍是190～900nm , 給出的基線平直度BF 為±0. 001Abs。但是筆者經測試后發現該儀器的基線平直度只能在200～800nm 內才能保證為± 0. 001Abs。這就意味著該儀器能保證基線平直度為±0. 001Abs的使用波長范圍只能是200～800nm, 這種給基線平直度的方法是不對的。它既偏離了基線平直度的定義(每個波長上的噪聲) , 又會誤導使用者, 認為該儀器在190～900nm 都能達到光度噪聲為±0. 001Abs。特別值得注意的是, 還有的公司把基線平直度和基線漂移混為一談。如國外的某公司,對某紫外可見分光光度計給出了“ 基線漂移為± 0. 002Abs ( 200～ 950nm)”和“ 基線漂移為N/ A” 的技術指標。顯然, 這里的“ 基線漂移” 指的是基線平直度。而該儀器的波長范圍為190 ～ 1100 nm, 但對波長范圍為190 ～1100 nm 的儀器, 只給出200～950nm 的基線平直度是不合理的。尤其對某儀器給出的“ 基線漂移為N/ A”, 這種給法更是莫名其妙。另外, 該公司又給出了某紫外可見分光光度計儀器的“ 基線穩定性為0. 001Ab s/ h”, 但未給出基線平直度。很顯然, 該公司既未搞清穩定性的含義, 又把基線平直度和500 nm處的光度噪聲混為一談了。目前除美國的P-E 等少數公司以外, 在基線平直度這個關鍵技術指標上, 類似上述某公司做法的廠商為數不少。
    產生上述現象的主要原因是不懂得基線平直度的重要性及其物理概念和含義, 或者為了商業上的需要, 如不這樣寫, 怕影響銷售。
三、影響基線平直度的主要因素
    (1 ) 濾光片或光學元件上有灰塵此時會產生散射, 從而引起基線平直度變壞。
    (2 ) 濾光片未安裝好用于不同波段不同的濾光片切換時