覆層測厚儀優點:
★測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;
★精度高 :本公司產品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上*能達到A級的產品,其精度遠高于時代等國內同類.比EPK等進口產品精度也高;
★穩定性:測量值的穩定性和使用穩定性優于進口產品;
★功能、數據、操作、顯示全部是中文。
相關產品馬弗爐
覆層測厚儀簡介:
該儀器是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現場測量。 本儀器符合以下標準: GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》。
覆層測厚儀功能特點:
采用了磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。
覆層測厚儀參數:
★測頭類型:F。
★測量原理:磁感應。
★測量范圍:0-1250um。
★低限分辨力:1?m(10um以下為0.1um)。
★探頭連接方式:一體化。
★示值誤差:一點校準(um)±[3%H 1]。
★兩點校準(um): ±[(1~3)%H 1]。
★測量條件:zui小曲率半徑(mm) 凸 1.5 凹9。
★基體zui小面積的直徑(mm):ф7。
★zui小臨界厚度(mm):0.5。
★溫濕度:0~40℃,20%RH~90%RH。
★統計功能:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(NO.)、
標準偏差(S.DEV)。
★工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)。
★測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)上下限設置。
★存儲能力:15 個測量值。
★打印/連接計算機:可選配打印機/不能連接電腦。
★關機方式:自動。
★電源:二節3.6V鎳鎘電池。
★外形尺寸:150×55.5×23mm。
★重量:150g。
★基本配置:主機。
★標準片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)。
★鐵基體。
★充電器。
★可選附件。
★TA230打印機。
覆層測厚儀基本原理:
本儀器采用了磁性測厚法,可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層)。 基本工作原理是:當測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可計算覆層的厚度。
基本配置:
★TT220主機 一臺
★標準樣片 1盒
★標準基體 1塊
★充電器 1個
主要功能:
★可進行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正:
★具有兩種測量方式地:連續測量方式(continue)和單次測量方式(single);
★具有兩種工作方式:直接方式和成組方式;
★具有刪除功能:對測量中出現的單個可疑數據進行刪除,也可刪除存貯區內的所有數據,以便進行新的測量;
★設有五個統計量:平均值地(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV);
★具有打印功能,或打印測量值、統計值;
★具有欠壓指示功能;
★操作過程有蜂鳴聲提示;
★具有錯誤提示功能;
★具有自動關機功能。
參數:
●測量范圍:0~1250um (標準量程) 。
●分辨率:0.1/1。
●zui小曲率半徑: 凸 5mm/ 凹 5mm。
●zui小測量面積:10x10mm。
●zui薄基底:0.4mm。
●使用環境:溫度:0-40℃ 濕度:10-85%RH。
●準確度:±(1.5+3%h)或±2um。
●公制/英制:可轉換。
●電源:2節5號電池。
●儀器尺寸:02mm×66mm×24mm。
●重量:99g(含電池)。
是具有廣泛使用范圍的非磁性儀器。其技術參數完全符合國家標準。本儀器是渦流便攜式覆層測厚儀,它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業必備的儀器。檢測所有絕緣涂層厚度,例如漆、塑料、瓷等。這些涂層須涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上。
功能:
●采用了渦流兩種測厚方法,可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。
●可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正。
●操作過程有蜂鳴聲提示。
●電池電壓指示:低電壓提示。
●自動關機。
●測量方法: NF 渦流。
附件:
●標準片4片: 50um 、100um、 250um 、500um(選配:12um、25um)。
●基體1塊(GT810 1塊基體)。
●電池2塊。
●清潔布1塊。
●說明書1份。
●保修卡1張。
2018年6月19日,英國牛津:日立分析儀器公司(日立分析儀器),是日立高新技術公司(TSE:8036)旗下一家從事分析和測量儀器的制造與銷售業務的全資子公司。今日,日立分析儀器拓展了XRF鍍層測厚儀......
-創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的精確性 -測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內置或外接探頭使用 -FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基......
產品介紹 XRF-2000L熒光金屬鍍層測厚儀產品描述: 應用 :測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92&nb......
根據廣西質量技術評價認證中心關于召開《X射線珠層測厚儀》廣西地方校準規范審定會的通知要求,廣西質量技術評價認證中心于6月22日在南寧組織有關專家對由國家珍珠及珍珠制品質量監督檢驗中心和廣西計量檢測研究......
橫河電機集團宣布最新研發出了WEBFREXNV在線測厚儀,該儀表用于測量并控制薄膜、薄板的厚度,從而確保其厚度一致。WEBFREXNV具有操作和監視功能得到改善的操作站。該新產品預計將于6月30日發布......
牛津儀器推出最新款快速可靠的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-Strata920,其穩定性和可靠性大大提升,加上圓滑的新設計,使其成為性價比極高的分析工具。穩定性和可靠性提升性能增強符合安全標準圓滑的......
近日,GE檢測控制技術推出的新型測厚儀DMSGo是一款高端測厚儀,既簡單易用,又能在一系列可選擇的格式下提供準確、全面的厚度檢測數據。它具有創新的操縱桿控制技術、全方面的可見性、高分辨率的色彩顯示功能......