賽默飛新型ARLQUANTXEDXRF光譜儀亮相Pittcon2017

　　·新型能量分散X射線熒光光譜儀能夠在研究和制造中進行快速元素分析

　　·ARL QUANT'X EDXRF光譜儀比前幾代更小、更靈敏、用戶使用更方便

　　分析測試百科網訊 實驗室經理，質量控制技術人員和進行常規分析或研究的科學家們現在可以使用一種新的臺式能量色散X射線熒光（EDXRF）光譜儀在廣泛的材料和樣品上進行更快的元素分析。

　　賽默飛新型ARL QUANT'X EDXRF光譜儀在Pittcon 2017展上首次亮相，其靈敏度比之前的版本高出四倍。該儀器覆蓋從氟到鈾的所有周期表元素，增強了靈敏度和靈活性以更好獲得樣品的全部元素組成。

　　ARL QUANT'X EDXRF光譜儀包含50W x射線管和最新一代硅漂移檢測器（SDD），可進行光元素和小斑點分析。該儀器比其前身需要更少的實驗室空間，還能適應XRF分析中使用的常規大小、以及大型和不規則形狀的樣品。

　　“在材料科學和表征方面，科學家和質量控制技術人員面臨著進行快速元素分析的壓力，這些元素分析為許多樣品類型和形狀提供全面的材料鑒定。”賽默飛XRF產品經理Didier Bonvin說，“我們重新設計了ARL QUANT'X，使其提高效率，簡化操作并降低成本，使研究和制造人員能夠解決他們最具挑戰性的分析任務。”

　　新型ARL QUANT'X EDXRF光譜儀能分析從石油化工、采礦和水泥到法醫，寶石學和環境控制各種應用的材料特性。新的ARL QUANT'X EDXRF光譜儀的優點包括：

　　·可用于Windows 10的WinTrace軟件，為用戶提供更加友好的界面，可以輕松地將結果導出到外部計算機或LIMS；

　　·通過UniQuant程序進行無標準分析，可進行小至1 mm的小點分析；

　　·大型樣品室，允許儀器接受不規則形狀的樣品，長度范圍為0.5厘米至40厘米，高度至5厘米，甚至還有30 x 40 x 36厘米樣品的樣品室可選。