對以TATB為基的高聚物粘結炸藥(JB1)進行了超聲空化處理,并利用掃描電鏡(SEM)觀察了處理前后JB1炸藥表面的細觀形貌,用X射線能譜儀(EDS)檢測了處理前后JB1炸藥表面的相對元素含量。結果表明:超聲空化處理可以使JB1炸藥表面的粘結劑和炸藥晶體的界面脫粘,使炸藥晶體裸露。隨著超聲空化處理時間的延長,炸藥晶體裸露程度加大,炸藥晶體表面的小孔洞增加,表面也變得更加粗糙和疏松,起爆感度提高。
一、高聚物的K、α參數的重要性用凝膠滲透色譜單檢測器(RI)測定高聚物的分子量及其分布是一種相對的測試方法。首先要制取適合被測樣品的log[η]·M-Ve標定線（工作曲線）。普適校正法是用流體力學體積......
一、 凝膠滲透色譜法產生的背景凝膠滲透色譜[GPC（GelPermeationChromatography）][也稱作體積排斥色譜(SizeExclusionChromatography)]......
粘度法測定高聚物的摩爾質量實驗目的：1.了解粘度法測定高聚物分子量的基本原理和公式2.掌握用烏氏(Ubbelohde)粘度計測定高聚物溶液粘度的原理與方法。3.測定聚丙烯酰胺或聚乙烯醇的摩爾質量。實驗......
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀......
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，......
本文提出一個直接利用薄膜和襯底的X射線能譜來同時測定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜發出的各元素的標識X射線強度比確定其成分,利用NaCl襯底的Nak_α和Clk_α標識X射線的強度隨膜厚增大而衰減......
本文通過在EM400T透射電鏡上用一些標準成分的樣品進行薄膜無標樣成份分析實驗,檢驗了EDAX9100能譜儀的分析準確度。在本試驗所用的樣品范圍內,其準確度為:近鄰元素同一X光線系分析相對誤差為5～1......
本文利用薄膜對入射電子束流的衰減作用和薄膜對襯底的x射線的吸收,提出了一種直接利用襯底的x射線的強度比來測量薄膜厚度的方法。并在各種實驗條件下,對Cu薄膜的厚度進行了測量,得到了較為滿意的結果。&nb......
隨著探頭制造技術水平的提高、電子學技術的發展,以及對脈沖處理技術和重疊峰處理方法的改進,能譜定量分析的精度得到不斷提高。目前,對原子序數在11～30之間的常用元素,其分析精度大體上可以達到波長譜儀的水......
本文利用EM400T透射電子顯微鏡和EDAX9100能譜儀研究微量元素在晶界的偏聚。通過本文采用的電子束直徑小到40A的微探針,低背底樣品臺,沿晶界拉長束斑,分段積分等措施,明顯地提高了分析靈敏度。用......