遷移率壽命積（Mobility-Lifetime Product，簡稱μτ）是半導體材料中一個重要的物理量，用于評價半導體材料的電學性能。遷移率壽命積是指材料中的載流子在電場作用下移動時，其遷移率（即速度與電場強度之比）與壽命（在電場作用下的存活時間）之積。
遷移率壽命積是評價半導體材料電學性能的重要參數之一，能反映材料導電性質的好壞。
在半導體器件的設計和制造中，這個物理量直接影響著器件的性能和可靠性。載流子遷移率（μ）決定了半導體器件的電導率和響應速度。在半導體器件中，載流子遷移率越高，器件的電導率就越高，響應速度也就越快。載流子壽命（τ）決定了半導體器件的響應速度和可靠性。在半導體器件中，載流子壽命越長，器件的響應速度就越快，可靠性也就越高。遷移率壽命積（μτ）是這兩個物理量的乘積，它決定了半導體器件的性能和可靠性。
在半導體器件的設計和制造中，設計師和制造工程師需要根據器件的應用場景和要求，選擇合適的半導體材料和工藝，以達到最佳的遷移率壽命積。同時，制造工藝的優化也可以提高遷移率壽命積，從而提高器件的性能和可靠性。
遷移率壽命積的具體數值取決于所使用的半導體材料和工藝。在實際應用中，設計師和工程師會根據具體的性能要求來選擇和調整遷移率壽命積的數值。例如，在X射線探測器中，高遷移率壽命積可以使載流子在更低的電場下渡越毫米級別的器件厚度，從而使器件可以工作在更低的電壓下。
FLyTOF飛行時間法遷移率測量儀是Oriental Spectra瞬態綜合光電特性測量平臺中的重要成員。該系統利用飛行時間法(time-of-flight，TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性，廣泛適用于各類半導體材料。