明場的光線是直射然后直接反射回去，對于細小的損傷和劃痕等看不清細節。暗場的光路是中間被擋住，只留環形光線斜射打到物體上，對于細小損傷的細節可以凸現出來
中國科學技術大學張斗國教授研究組研制出一種基于光學薄膜的平面型顯微成像元件，用作被測樣本的載波片，可在常規的明場光學顯微鏡上實現暗場顯微成像和全內反射成像，獲取高對比度的光學顯微圖像。相關研究成果日前......
