除了x射線外，還有什么測定晶體結構的方法

除了x射線外，還有什么測定晶體結構的方法
測定晶體取向方法有多種,常 用的是腐蝕性法、激光定向法 和X射線衍射法。 晶體結構測定方法，crystal structure determination，即利用晶體 X射線衍射可測定晶體結構。但衍射實驗只能測得衍射強度（即結構振幅）而測不到相角，這樣就不可能直接從強度得到晶體結構數據，而要利用其他方法。 直接法 直接從實驗得到X射線強度,利用一系列數學處理，推引出結構因子的相角，實現了直接和自動化測定晶體結構，成為當前測定中小分子結構的主流方法。 模型法 試差法（模型法）利用晶體的對稱性和其他性質以及結構規則，對所研究的結構提出合理的模型，然后從理論上計算晶體的衍射強度，再把計算值與實驗值進行比較，并經過多次修正模型，使計算值與實驗值盡可能符合。