一種分振幅雙光束干涉儀。由馬赫和秦特在1892年研制而成。這種干涉儀的原理如圖所示。D1和D2為兩塊分光板，M1和M2為兩塊平面鏡，這四個反射面接近平行，而且它們的中心分別位于一個平行四邊形的四個頂點。單色點光源S位于準直透鏡L1的前焦面上，S發出的光通過L1后成為平行光，在D1的前表面分成反射光和透射光。反射光被M2反射，透過D2，射向物鏡L2；透射光被M1和D2反射，也射向L2。兩束光在L2的后焦面P相遇，產生干涉。測量時，將M2和D2稍作傾斜，使視場內只出現幾條等距直條紋。這種干涉儀主要用來研究空洞中飛機或導彈模型周圍的氣流分布。風洞T1和補償氣室T2分別置于兩條光路中，氣流高速流過風洞中的模型，氣流的速度分布形成壓力分布，從而影響密度分布，使折射率出現變化，光線的光程也因此發生變化，使干涉條紋也出現變化。根據干涉條紋的照片，就可分析氣流的分布。與邁克耳孫干涉儀相比，馬赫-秦特干涉儀的光能利用率較高，光只通過每條路徑一次，可使干涉條紋位于模型所在的平面上，從而準確定出條紋的位置。若使用激光作光源，還可獲得清晰而明亮的干涉圖樣。