1.TEM-EDS與XPS測試時采樣深度的差別?
XPS采樣深度為2-5nm，我想知道EDS采樣深度大約1um。
2.Z襯度像是利用STEM的高角度暗場探測器成像，即HAADF。能否利用普通ADF得到Z襯度像?
原子分辨率STEM并不是HAADF的ZL，ADF或明場探頭也可以做到，只是可直接解釋性太差，失去了Z襯度的優勢。HAADF的特點除了收集角高以外，其采集靈敏度也大大高于普通的ADF探頭。高散射角的電子數不多，更需要靈敏度。ADF的位置通常很低，采集角不高(即使是很短的相機長度)，此外它的低靈敏度也不適合弱訊號的收集。
3.能譜，有的叫EDS，也有的叫EDX，到底哪個更合適一些?
能譜的全稱是：Energy-dispersive X-ray spectroscopy國際標準化術語:EDS-能譜儀，EDX-能譜學。
4.透射電鏡簡單分類?
透射電鏡根據產生電子的方式不同可以分為熱電子發射型和場發射型。熱電子發射型用的燈絲主要有鎢燈絲和六硼化鑭燈絲；場發射型有熱場發射和冷場發射之分。根據物鏡極靴的不同可以分為高傾轉、高襯度、高分辨和超高分辨型。
5.TEM用銅網的孔洞尺寸多大?
撈粉體常用的有碳支持膜和小孔微柵，小孔微柵上其實也有一層超薄的碳膜。拍高分辨的，試樣的厚度最好要控制在 20 nm以下，所以一般直徑小于20nm的粉體才直接撈，顆粒再大的話最好是包埋后離子減薄。
6.TEM要液氮才能正常操作嗎?
不同于能譜探頭，TEM液氮冷卻并不是必須的，但它有助于樣品周圍的真空度，也有助于樣品更換后較快地恢復操作狀態。
7.在透射電鏡上觀察到納米晶,在納米晶的周圍有非晶態的區域,我想對非晶態的區域升溫或者給予一定的電壓(電流),使其發生變化, 原位觀察起變化情況?
用原子力顯微鏡應該可以解決這個問題。
8..磁性粒子做電鏡注意事項?
1.磁性粒子做電鏡需要很謹慎。2.分散劑可以用表面活性劑，但是觀察的時候會有局部表面活性劑在電子束輻照下分解形成污染環，妨礙觀察。
9.Mg-Al合金怎么做SEM，二次電子的?
這種樣品的正確測法應該是先拋光，再腐蝕。若有蒸發現象，可以在樣品表面渡上一層金。
10.電壓中心和電流中心的調整?
HT wobbler調整的是電壓中心，OBJ wobbler調整的是電流中心，也有幫助聚焦的wobbler-image x和image y。
11.水熱法制備的材料如何做電鏡?
水熱法制備的材料容易含結晶水，在電子束的輻照下結構容易被破壞，試樣在電鏡的高真空中過夜，有利于去掉部分結晶水。估計你跟操作的老師說了，他就不讓你提前放樣品了。
12.TEM磁偏轉角是怎么一會事，而又怎樣去校正磁偏轉角?
一般老電鏡需要校正磁偏轉角，新電鏡就不用做了。現在的電鏡介紹中都為自動校正磁偏轉角。
13.分子篩為什么到導電?
分子篩的情況應該跟硅差不多吧。純硅基本不導電，單硅原子中的電子不像絕緣體中的電子束縛的那么緊，極少量的電子也會因電子束的作用而脫離硅原子，形成少量的自由電子。留下電子的空穴，空穴帶有正電，起著導電作用。
14.電子衍射圖譜中都會發現有一個黑色的影子，是指示桿的影子，影子的一端指向衍射中心。為什么要標記出這個影子在衍射圖譜中呢?
beam stopper主要為了擋住過于明亮的中心透射斑，讓周圍比較弱的衍射斑也能清晰的顯現。
15.HAADF-STEM掃描透射電子顯微鏡高角環形暗場像。
高分辨或原子分辨原子序數(Z)襯度像(high resolution or atomic resolution Z-contrast imaging)也可以叫做掃描透射電子顯微鏡高角環形暗場像(HAADF-STEM)這種成像技術產生的非相干高分辨像不同于相干相位襯度高分辨像，相位襯度不會隨樣品的厚度及電鏡的焦距有很大的變化。像中的亮點總是反映真實的原子。并且點的強度與原子序數平方成正比，由此我們能夠得到原子分辨率的化學成分信息。
16.TEM里的潘寧規。
測量真空度的潘寧規不測量了，工程師讓拆下清洗，因為沒有"內卡鉗"，無法完全拆卸，只好用N2吹了一會兒，重新裝上后也恢復正常了，但是工程說這樣治標不治本，最好是拆卸后用砂紙打磨，酒精清洗。
17.電子衍射時可否用自動曝光時間,若手動曝光.多少時間為宜?
電子衍射不能用自動曝光，要憑經驗。一般11或16秒，如果斑點比較弱，要延長曝光時間。
18.CCD相機中的CCD是什么意思?
電荷耦合器件：charge-coupled device，具體可以參見《材料評價的分析電子顯微方法》中Page35-42頁。
19.有公度調制和無公度調制。
有許多材料在一定條件下，其長程關聯作用使得晶體內局域原子的結構受到周期性調制波的調制。若調制周期是基本結構的晶格平移矢量的整數倍，則稱為有公度調制；若調制周期與基本結構的晶格平移矢量之比是個無理數，稱為無公度調制。涉及的調制結構可以是結構上的調制，成分上的調制，以及磁結構上的調制。調制可以是一維的、二維的，和三維的。
20.高分辨的粉末樣品需要多細?
做高分辨的粉末樣品，就是研磨得很細、肉眼分辨不了的顆粒。幾十個納米已經不算小了。顆粒越小，越有可能找到邊緣薄區做高分辨，越有利于能損譜分析；顆粒越大，晶體越容易傾轉到晶帶軸(比如做衍射分析)，X-光的計數也越高。